一. 产品简介

SJ5100测长仪采用高精度光栅测量系统、精密研磨导轨、高精度温度及阿贝补偿系统、双向恒测力系统、高性能计算机控制系统技术，实现各种长度参数的高精度测量。通过高精密研磨导轨保证测量行走的高稳定性及直线度，采用高精度光栅测量系统记录接触测量中长度方向坐标，由计算机将数据与测倾装置、测力装置、温度传感器的反馈数据进行合成，按被测件参数的相关定义及公式进行分析，计算获得相关长度参数。

二. 工作原理

 1.  标准器：

采用高精度光栅系统作为反馈X轴向距离的标准器；

2.  测量原理：

利用头座的测力并使用测帽球面（针对平面物体测量-如量块，校对杆，千分尺，卡规等）接触被测平面，五轴工作台的水平方向浮动，使得尾座测帽球面与被测件另一平面接触；从而测得两测帽球面顶点间的距离；利用头座的测力并使用平面测帽的平面（针对圆周外径测量，如光面塞规，针规及棒材）接触被测平面，五轴工作台的水平方向浮动，使得尾座测帽球面与被测件另一平面接触；从而 测得两测帽平面间的距离；利用头座测力并使用平面测帽接触三针使三针与螺纹塞规螺纹槽中径截面点接触，得到平面测帽间 的距离，并加上三针针径，使用三针法计算得到螺纹单一中径；利用T型测球与螺纹环规内螺纹槽中径截面点分别接触，得到一组螺纹中截面中径数据，并通过三针法计算得到螺纹单一中径；

3.  数据修正：

通过测力修正系统及温度修正系统将X轴向光栅反馈的数据进行修正得到正确的X轴标准长度数值；

4.  软件标准及数据计算：

软件系统内置多个标准，并通过对应标准的数据计算得到检定所需数据（如螺纹的单一中径，量块 的标准长度，光面规的真值等；

三.技术参数

分辨力：0.01um 
juedui测量范围： 
外尺寸测量：0～640mm 

仪器误差： 
±（0.15＋L/1000）μm 其中：L为被测长度，单位：mm