蝶形激光器老化测试用数字源表认准武汉生产厂家普赛斯仪表，公司自主研发的高精度台式数字源表、脉冲式源表、集成插卡式源表、窄脉冲电流源、高精度高压电源等，填补国产空白。主要应用于半导体器件的测试工艺，为客户提供模块化硬件、 驱动程序和 算法软件组合，帮助用户构建自定义解决方案。为半导体封测厂家提供相关测试仪表、测试平台，以及相关技术服务，满足行业对测试效率、测试精度，以及低成本的挑战。普赛斯插卡式设备具有通道密度高、同步触发功能强、多设备组合效率高等特点。普赛斯插卡式主机采用自定义框架，背板总线带宽高达3Gbps，支持16路触发总线，满足多卡设备高速率通信需求。普赛斯研发了丰富的可供用户选配的子卡，方便用户根据功能性能需求灵活配置不同的子卡。主机对外通信支持串口、以太网及GPIB。

为满足客户对子卡数的不同需求，推出了1003CS和1010CS两款主机，1003CS拥有 高容纳3子卡的插槽，1010CS拥有 高容纳10子卡的插槽。普赛斯子卡均能放入这两种主机。

CS系列源表子卡是普赛斯历时多年打造的高精度、大动态、插卡式源表子卡，汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能， 输出电压达300V， 输出电流达1A，支持四象限工作，因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。CS系列源表适用于各行各业使用者，特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

目前已开发，CS100、CS200、CS300、CS400、CBI401及CBI402子卡，其中CS100、CS200、CS300为单卡单通道，CS400、CBI401及CBI402为单卡四通道，卡内4通道共地。使用10插卡主机时，用户可实现高达40通道的配置，用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现Z优性价比搭配。

产品应用

• 纳米材料特性测试，石墨烯、纳米线等

• 有机材料特性测试，电子墨水、印刷电子技术等

• 能量与效率特性测试，LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

• 分立半导体器件特性测试，电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等

• 传感器特性测试，电阻率、霍尔效应等

• 小功率VCSEL及蝶形激光器老化

产品特点

• 源及测量的准确度为0.1%，分辨率5位半

• 四象限工作（源和肼），源及测量范围

• 单主机可支持10子卡， 高实现40通道

• 灵活的通道触发总线，多子卡 协同工作

• 丰富的扫描模式，支持线性扫描、指数扫描及用户自定义扫描

• 支持多种通信接口，RS-232、GPIB及以太网

技术指标

• 1003C          主机：

  插槽数： 多支持3通道；

  通信口：RS-232、GPIB、以太网；

  电源：AC 100~240V       50/60Hz， 功率500W；

  工作环境：25±10℃；

  尺寸：178mm高 × 482mm宽 × 552mm长；

  质保期：1年；

• 1010C         主机：

  插槽数： 多支持10通道；

  通信口：RS-232、GPIB、以太网；

  电源：AC 100~240V       50/60Hz， 功率500W；

  工作环境：25±10℃；

  尺寸：354mm高 × 482mm宽 × 552mm长；

  质保期：1年；

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